IEC/PAS 62164 Edition 1.0-2000 GaAsMMIC和FET寿命试验的指南

作者:标准资料网时间:2024-05-11 22:48:52 浏览:8112 来源:标准资料网

【英文标准名称】:GuidelinesforGaAsMMICandFETlifetesting
【原文标准名称】:GaAsMMIC和FET寿命试验的指南
【标准号】:IEC/PAS62164Edition1.0-2000
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2000-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;微波电路;电气工程;集成电路;电子设备及元件;场效应晶体管;寿命试验;试验;半导体器件
【英文主题词】:lifetest;testing;semiconductordevices;microwavecircuits;electronicequipmentandcomponents;electricalengineering;integratedcircuits;field-effecttransistors;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:K04
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:18P;A4
【正文语种】:英语

下载地址: 点击此处下载

返回跳至顶部

上一篇: IEC/PAS 62184 Edition 1.0-2000 铅完整性的试验方法
下一篇: IEC 60335-2-66 AMD 1-2000 家用和类似用途电器的安全.第2-66部分:水床加热器的特殊要求.修改件1

标准名称：	C04-63骆色醇酸半光磁漆
中标分类：	化工 >> 涂料、颜料、染料 >> 涂料
发布日期：
实施日期：	1991-07-01
首发日期：
作废日期：
出版日期：